產(chǎn)品展示 PRODUCT
高精度少子壽命測(cè)試是評(píng)估半導(dǎo)體材料（如硅、鍺）中少數(shù)載流子復(fù)合速率的關(guān)鍵技術(shù)，廣泛應(yīng)用于太陽能電池、半導(dǎo)體制造等領(lǐng)域。少子壽命：去除雜質(zhì)缺陷可延長壽命，摻入金、鉑或電子輻照可縮短壽命。測(cè)試方法包括準(zhǔn)穩(wěn)...
紅外激光少子壽命 指半導(dǎo)體中非平衡少數(shù)載流子在紅外激光激發(fā)下從產(chǎn)生到復(fù)合的平均存活時(shí)間。 ?測(cè)試方法紅外脈沖激光 激發(fā)半導(dǎo)體材料，通過 微波光電導(dǎo)衰減法 （ μ-PCD ）檢測(cè)電導(dǎo)率變化，從而推算少子...
導(dǎo)電膜，即具有導(dǎo)電性能的薄膜材料，是一種重要的功能性材料，廣泛應(yīng)用于觸摸屏、太陽能電池、柔性電路等領(lǐng)域。方阻和電阻率，是衡量導(dǎo)電膜導(dǎo)電性能的重要指標(biāo)。方阻，全稱方塊電阻(Sheet Resistanc...
金屬膜電阻器是膜式電阻器(Film Resistors)中的一種。它是采用高溫真空鍍膜技術(shù)將鎳鉻或類似的合金緊密附在瓷棒表面形成皮膜，經(jīng)過切割調(diào)試阻值，以達(dá)到最終要求的精密阻值，然后加適當(dāng)接頭切割，并...
半導(dǎo)體材料根據(jù)時(shí)間先后可以分為三代。第一代為鍺、硅等普通單質(zhì)材料，其特點(diǎn)為開關(guān)便捷，一般多用于集成電路。第二代為砷化鎵、磷化銦等化合物半導(dǎo)體，主要用于發(fā)光及通訊材料。第三代半導(dǎo)體主要包括碳化硅、氮化鎵...
碳化硅的厚度范圍?可以從幾微米到幾毫米不等，具體取決于其應(yīng)用場景和制造工藝。例如，碳化硅晶圓片的厚度可以達(dá)到130微米（um），而碳化硅顆粒的尺寸則有1-3mm、3-5mm等多種規(guī)格?12。碳化硅在不...
非接觸式無損測(cè)厚儀采用的工作原理是光熱紅外法。利用光源照射物體表面,通過對(duì)激勵(lì)光源進(jìn)行強(qiáng)度調(diào)制，在材料中產(chǎn)生熱波，光源激發(fā)的熱量通過熱波在涂層中向深處傳播，這一熱波在涂層與基材的邊界處反射并最終傳播出...
非接觸式無損測(cè)厚儀采用的工作原理是光熱紅外法。利用光源照射物體表面,通過對(duì)激勵(lì)光源進(jìn)行強(qiáng)度調(diào)制，在材料中產(chǎn)生熱波，光源激發(fā)的熱量通過熱波在涂層中向深處傳播，這一熱波在涂層與基材的邊界處反射并最終傳播出...
關(guān)于我們 ABOUT
2021年
公司成立1000萬
注冊(cè)資金28個(gè)
專利技術(shù)365天
用心服務(wù)每一天
技術(shù)文章 ARTICLES
2025-08-28非接觸電阻率測(cè)試儀是一種用于測(cè)量材料電阻率的儀器，具有非接觸式的優(yōu)勢(shì)，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、材料科學(xué)、物理學(xué)等領(lǐng)域。與傳統(tǒng)的電阻率測(cè)試方法不同，不需要直接接觸被測(cè)材料表面，而是通過電磁場原理或者光學(xué)原理來實(shí)現(xiàn)電阻率的測(cè)量。非接觸電阻率測(cè)試儀的原理：1.電磁感應(yīng)原理：通過向材料施加交變電磁場，并測(cè)量材料的電導(dǎo)率或電阻率。電磁場通過材料時(shí)，材料的電性性質(zhì)（如電導(dǎo)率）會(huì)影響到電磁波的傳播特性，根據(jù)這一變化可以計(jì)算出電阻率。2.霍爾效應(yīng)原理：霍爾效應(yīng)是指在磁場作用下，帶電粒子在導(dǎo)體中受到...
2025-07-17PN型測(cè)試儀是一種常用于電子行業(yè)中的工具，主要用于測(cè)量半導(dǎo)體材料和器件的特性，尤其是在PN結(jié)（P型半導(dǎo)體與N型半導(dǎo)體接觸的部分）的性能測(cè)試中。PN結(jié)是現(xiàn)代電子設(shè)備中極其重要的基礎(chǔ)元件，廣泛應(yīng)用于二極管、晶體管等器件的制造中。核心工作原理是基于半導(dǎo)體的電性特征。半導(dǎo)體中的P型和N型區(qū)域形成PN結(jié)，PN結(jié)具有電氣性質(zhì)。在沒有外加電壓的情況下，PN結(jié)會(huì)形成一個(gè)電場，阻礙電流流動(dòng)。而當(dāng)施加正向電壓時(shí)，電流便可以通過PN結(jié)流動(dòng)；而施加反向電壓時(shí)，電流幾乎不會(huì)通過，除非電壓達(dá)到一定值（即...
2025-06-26霍爾遷移率測(cè)試儀的使用過程涉及到的步驟霍爾遷移率測(cè)試儀的使用過程通常包括以下關(guān)鍵步驟：準(zhǔn)備工作：檢查儀器：確保霍爾遷移率測(cè)試儀及其附件完好無損，檢查電源線、連接線等是否齊全。預(yù)熱儀器：根據(jù)儀器要求，可能需要預(yù)熱一段時(shí)間，以確保儀器內(nèi)部處于穩(wěn)定狀態(tài)。記錄參數(shù)：查看并記錄霍爾元件的規(guī)格參數(shù)，如尺寸、導(dǎo)電類型及材料等，這些參數(shù)在后續(xù)計(jì)算中會(huì)用到。連接線路：正確接線：按照儀器說明書或?qū)嶒?yàn)要求，將霍爾元件與測(cè)試儀正確連接。通常，霍爾元件的工作電流端和霍爾電壓輸出端需要分別連接到測(cè)試儀的...
2025-06-26霍爾遷移率測(cè)試儀是一種用于測(cè)量半導(dǎo)體材料中載流子遷移率的重要儀器設(shè)備。在半導(dǎo)體和電子器件的研發(fā)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制中，遷移率作為衡量載流子（電子或空穴）在材料內(nèi)部運(yùn)動(dòng)速度的關(guān)鍵參數(shù)，直接影響器件的性能表現(xiàn)。核心原理基于霍爾效應(yīng)。霍爾效應(yīng)是指在導(dǎo)體或半導(dǎo)體材料中，載流子在磁場中的偏轉(zhuǎn)導(dǎo)致橫向電勢(shì)（霍爾電壓）的產(chǎn)生。當(dāng)在樣品中施加垂直于電流的磁場時(shí)，載流子在洛倫茲力作用下偏向一側(cè)，形成霍爾電壓。這個(gè)電壓與載流子濃度、遷移率、施加電場等參數(shù)密切相關(guān)。霍爾遷移率測(cè)試儀的具體工作流程：1....
2025-05-28無損電阻率測(cè)試儀是一種用于測(cè)試物質(zhì)電阻率的儀器，特別適用于不希望對(duì)樣品造成任何損害的檢測(cè)場合。這種測(cè)試儀廣泛應(yīng)用于工程檢測(cè)、材料分析以及質(zhì)量控制等領(lǐng)域。通過不同的物理原理和方法，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)材料電阻率的精確測(cè)量，且不會(huì)對(duì)樣品本身產(chǎn)生任何物理或化學(xué)上的影響。無損電阻率測(cè)試儀的工作原理：1.接觸式測(cè)量原理通過在材料表面放置電極，施加一定的電流，并測(cè)量電壓降落。根據(jù)歐姆定律\(R=\frac\)（電阻R等于電壓V與電流I之比），可以計(jì)算出電阻值。而電阻率是電阻與樣品的幾何...
2025-04-30遷移率測(cè)試儀是用于測(cè)量材料中載流子（如電子、離子）遷移速率的專業(yè)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、新能源電池、納米材料等領(lǐng)域。其通過精確控制電場、溫度等條件，量化載流子在材料中的移動(dòng)能力，為材料性能評(píng)估與研發(fā)提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)。一、使用前準(zhǔn)備（一）設(shè)備檢查使用前需全面檢查遷移率測(cè)試儀各部件狀態(tài)。查看主機(jī)外殼是否完好，確認(rèn)顯示屏、操作按鈕、接口等無損壞；檢查電場發(fā)生裝置、溫度控制系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集模塊等核心組件連接是否穩(wěn)固。特別要檢查測(cè)試腔密封性，確保無漏氣、漏液現(xiàn)象，避免外部環(huán)境干擾測(cè)試結(jié)果。同...
LINKS友情鏈接
臨沂復(fù)印機(jī)租賃 發(fā)光字廠家 EPE珍珠棉 山東瀝青路面施工 SFG軸承 三聚氰胺貼面紙
與我們產(chǎn)生合作，還原您產(chǎn)品藍(lán)圖里應(yīng)有的樣子!
立即聯(lián)系我們
產(chǎn)品中心
晶圓方阻測(cè)試儀 硅片方阻測(cè)試儀 晶錠方阻測(cè)試儀 渦流法電阻率測(cè)試儀 遷移和少子新聞中心
新聞資訊技術(shù)文章關(guān)于我們
公司簡介榮譽(yù)資質(zhì)聯(lián)系方式
在線留言聯(lián)系我們歡迎您的咨詢
我們將竭盡全力為您用心服務(wù)
掃碼添加微信
掃碼關(guān)注我們
Copyright ©2025 九域半導(dǎo)體科技（蘇州）有限公司 All Rights Reserved 備案號(hào)：蘇ICP備2023057191號(hào)-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸 sitemap.xml